CBTZ-3100Z型自动对位探针台操作简单，快捷，测试精度高，具有MAP显示功能。 它与测试仪连接后，能自动完成对各种晶体管芯的电参数测试及功能测试 。

CGO-4高低温真空探针台测试系统 77K-675K（液氮）； 超高温度分辨率； 低温具有*稳定性

CT-6非真空高低温探针台大可用于12英寸以内样品测试 采用密闭腔结构，屏蔽外部电信干扰同时保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜

CINDBEST CJ-4高温测试测量探针台大可用于8英寸以内样品测试 ； 可满足500度高温测试 ； 温度稳定性高 ；兼容IV/CV/RF测试

CW-4 IGBT高压大电流测试探针台大可用于8英寸以内样品测试 ； 可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用

CH-12综合性分析探针台测试系统大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准 ； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CINDBEST CH-8|8~12“ 探针台测试系统大可用于12英寸以内样品测试； 操作便捷，功能其全，高效精准 ； 可满足晶片测试、光电器件测试、PCB/IC测试、射频测试、高压大电流测试等

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V测试探针台CL系列探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动 ； 可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用