布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-500 先进的台式三维形貌计量设备 与放大倍率无关的业界好Z轴分辨率 高级自动化功能，包含带编码器的XY轴样品台、自动测头倾斜和自动亮度调整 更紧凑的气动减震台设计

布鲁克HysitronTS77 Select纳米压痕仪 Hysitron TS 77 精选是自动化台式纳米力学和纳米摩擦测试系统，可提供同类仪器的高性能、多功能和易用性,在纳米至微米尺度上提供可靠的力学和摩擦学表征。 TS 77 精选 支持主流的测试模式，是定量纳米压痕、动态纳米压痕、纳米划痕、纳米摩擦磨损和高分辨力学性能成像的高性价比解决方案。

DEKTAK XT布鲁克台阶仪/表面轮廓仪台阶仪主要用于材料表面的2D，3D测量，可以测试台阶高度，表面粗糙度；同时也适合材料表面沟槽深度的测试；能够在微电子，半导体及化合物半导体，太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、OLED、ITO、微流控、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。Dektak台阶仪测量薄膜材料可以达到埃级重现性和1nm-1mm的测量范围。