详细介绍
品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 地矿,能源,电子,汽车,电气 |
---|
CGO-4高低温真空探针台测试系统
77K-675K(液氮);
超高温度分辨率;
低温具有*稳定性
特点/应用
2至6英寸样品台
高真空腔体
防辐射屏设计,样品温度均匀性更好
77K-675K高低温环境
兼容IV/CV/RF测试
外置多探针臂,移动行程大
经济实用,可无缝升级
CGO-4高低温真空探针台测试系统
极低温测试:
因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。
高温无氧化测试:
当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。
晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。
腔体规格:
型号 |
CGO-2/CGO-4/CGO-6 |
样品台尺寸 |
2英寸/4英寸/6英寸 |
样品固定 |
弹簧压片 |
观察窗口 |
2英寸/4英寸/6英寸 |
真空度 |
10-6torr |
探针臂接口 |
4~6个探针臂接口 |
其他接口 |
电信接口、真空接口、光纤接口、冷源接口 |
制冷方式 |
液氮/液氦/制冷机 |
温度范围 |
77K到573K/4.5K到573K |
温控精度 |
0.1K/0.01K/0.001K |
稳定性 |
±1K/±0.1K/±0.01K |
外形 |
880mm长*880mm宽*600mm高/980mm长*980mm宽*600mm高 |
重量 |
约100千克/120千克 |
◆光学系统:
显微镜类型 |
单筒显微镜/体式显微镜/金相显微镜 |
放大倍率 |
16X-200X/20X-4000X |
移动行程 |
水平360度旋转,Z轴行程50.8mm |
光源 |
外置LED环形光源/同轴光源 |
CCD |
200万像素/500万像素/1200万像素 |
◆探针臂:
X-Y-Z移动行程 |
50mm*50mm*50mm |
结构 |
外置探针臂,真空波纹管结构 |
移动精度 |
10微米/1微米 |
线缆 |
同轴线/三轴线/射频线 |
漏电精度 |
10pA/100fA/10fA |
固定探针 |
弹簧固定/管状固定 |
接头类型 |
BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子 |
频率支持 |
DC-67GHZ |
针尖直径 |
0.5微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
产品咨询
微信扫一扫