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LET-2000D力钛科（Letak）半导体静动态测试系统
LET-2000D力钛科（Letak）半导体静动态测试系统
是满足IEC60747-8/9、JESD24标准，旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场合。特别对于应用第三代半导体的需要，有着较高的系统带宽，可以有效的测量出实际的器件参数。
双脉冲测试法可以测试IGBT模块和驱动的性能，获取IGBT稳态和暂态过程中的主要参数，用以评估IGBT模块和驱动的性能，并进行电路参数的优化。
具体包括测试IGBT的实际工况、开关损耗、关断电压尖峰、开关暂态震荡情况、二极管反向恢复电流、杂散电感影响、吸收电路影响、短路保护功能等，可以通过测试进行优化栅极电阻RGON和RGOFF参数、吸收电路参数、开关频率设置等，并可以进行IGBT模块的并联和串联实验。
硬件优势:
-采用12 bit示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数
-采用光隔离、高CMRR探头系统，解决SIC\GAN的测试难点
-高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求
-可以满足上/下管测试，避免频繁连接探头
-电压覆盖范围宽、并可以再次扩展
-器件驱动设计支持SIC/GAN器件
-系统带宽：>400MHz
-系统可以定制
软件特点：
测量参数齐全：开关参数、短路参数、反向恢复参数
支持器件类型多：单管/模块，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
测试方式：单脉冲、多脉冲
离线数据分析：既可以在线测量，也可以记录数据离线分析
测试UI符合工程师的使用习惯
测量项目及器件支持扩展
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