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| 品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 能源,电子,汽车,电气 |
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KOSAKA小坂研究所，营业项目：自动车光电半导体精密测定机器，表面粗度测定机，微细形状测定，轮廓形状测定机，真圆度测定/真圆度圆筒形状测定机
营业项目适应行业：
表面粗糙度测量机：使用钻石或是激光光学测针、接触（追踪）加工件表面、测量出工件表面微细凹凸、并以定型或定量来分析粗糙度参数。
微细形状、台阶测量计：FPD基板、硅晶片、硬磐等表面微细形状、台阶、粗糙度测量
圆度、圆柱形状测量机：测量发动机、缸体、活塞、曲轴、轴承等，具有圆度圆柱度、球形、平面形状的工件，评估圆度、圆柱度、直线度、同轴度等形状精度
轮廓测量机：以测针追踪加工部件外形测量出轮廓，分析出轮廓各部位的角度，半径、间隔、台阶、段差等等
型号汇总
表面粗度测定机
KOSAKA小坂表面粗度测定机SE300
KOSAKA小坂表面粗度测定机SE500A
KOSAKA小坂二次元粗度测定机SE600
KOSAKA小坂表面粗度测定机SE610
KOSAKA小坂三次元粗度测定机SE600K31
KOSAKA小坂表面粗度测定机SE700
KOSAKA小坂表面粗度测定机SE700K31
KOSAKA小坂表面形状粗度测定机DSF600
KOSAKA小坂表面形状粗度测定机DSF900
KOSAKA小坂防振台附架台SMB-7
表面粗糙度轮廓测量机
SEF680粗糙度轮廓测定一体机KOSAKA小坂
SEF681D表面粗度轮廓形状测定机KOSAKA小坂
SEF781D表面粗度轮廓形状测定机KOSAKA小坂
SEF680K31表面粗度轮廓形状测定机KOSAKA小坂
轮廓形状测定机
KOSAKA小坂轮廓形状测定机EF550A-M50
KOSAKA小坂轮廓形状测定机EF550A-M5·B
KOSAKA小坂轮廓形状测定机EF550A-M58
KOSAKA小坂轮廓形状测定机EF550A-G18
KOSAKA小坂轮廓形状测定机EF550A-G18D
KOSAKA小坂轮廓形状测定机EF650
KOSAKA小坂轮廓形状测定机EF651D
KOSAKA小坂轮廓形状测定机REF100
微细形状测定机
台阶仪微细形状测定机ET200日本KOSAKA小坂
微细形状测定机ET4000A日本KOSAKA小坂
微细形状测定机ET4000AK日本KOSAKA小坂
微细形状测定机ET4000M日本KOSAKA小坂
微细形状测定机ET4000L日本KOSAKA小坂
微细形状测定机ET4300日本KOSAKA小坂
微细形状测定机ET10000日本KOSAKA小坂
真圆度圆柱度测定机
日本KOSAKA小坂真圆度测定机EC600
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC1550H
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC1850H
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC1850P
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC3300P
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC2500H
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC2700H
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC3600A
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC36008
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC3600C
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC4100H
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC5100H
日本KOSAKA小坂真圆度圆柱度测定机EC6100
其他
KOSAKA小坂非接触式检出器PU-0S500
校正用标准片SS-N日本KOSAKA小坂
校正用标准片SS-A日本KOSAKA小坂
校正用标准片SS-G22日本KOSAKA小坂
校正用标准片SS-F日本KOSAKA小坂
校正用标准片SS-T日本KOSAKA小坂
校正用标准片SS-1日本KOSAKA小坂
校正用标准片SS-E日本KOSAKA小坂
校正用标准片SS-S日本KOSAKA小坂
KOSAKA小坂圆周粗度测定台SRA-21
KOSAKA小坂薄膜试片台BA-41
KOSAKA小坂防振台ECV40
KOSAKA小坂回转机构附对芯治具MRC-20
KOSAKA小坂对芯治具MRC12
KOSAKA小坂倍率标准片SS-C
KOSAKA小坂检出器PU-UG5SC
KOSAKA小坂检出器PU-UG4SC
KOSAKA小坂检出器PU-UG4S
KOSAKA小坂真圆度标准片SS-R
产品概述：
● 对应多样化参数
● 可自动执行测定到打印
● 资料表格可自由编辑● 资料取样和解析可并列处理
● 可记录鸟瞰图和浓淡图三次元粗度形状
● 最大1亿点的取样数、 高分解能的测定● 形状补正、 滚珠螺杆解析等的解析软体丰富
● 资料表格可自由编辑表面粗度轮廓形状测定机SEF680K31产品参数
| 二次元粗度 | |
|---|---|
| 测定规格 | JIS(2001/94/82) 、 DIN、 ISO 、 ASME |
| 测定范围 | Z:1200um X:100mm |
| 扩大倍率 | Z:50~500,000 X:1~5,000 |
| 记录 | 自由编辑记录结果并可输出PDF档 |
| 触针/测定力 | R2um、 0.75mN |
| 三次元粗度 | |
| 测定范围 | Z:1200um X:100mm Y:50mm |
| 取样最小间隔 | X、Y都为1um |
| 记录 | 彩色记录（鸟瞰图、微分浓淡图等）、粒子解析，三次元粗度参数解析多种 |
| 触针/测定力 | R2um 0.75mN |
| 轮廓形状 | |
| 解析项目 | 要素/方位向量/非球面/滚珠螺杆/MASTER比较 |
| 测定范围 | Z:60mm X:100mm |
| 触针/测定力 | R25um 30mN以下 |
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