SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000

SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000

• 品牌：华科智源

• 名称：SIC动态参数测试仪

• 型号：HUSTEC-3000

• 用途：SIC器件，MOS管， IGBT测试

功能及主要参数：
　　适用碳化硅二极管、IGBT模块\MOS管等器件的时间参数测试。
　　主要技术参数：
　　IGBT开关特性测试
　　开关时间测试条件
　　Ic：50A～1000A Vce：200V～2000V
　　Vgs：-10V～＋20V Rg：1R～100R可调(可选择4档及外接)
　　负　　载：感性负载阻性负载可切换
　　电感范围：100uH，200uH，500uH，1000uH
　　电阻范围：0.5R、1R、2R、4R

SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000参数
　　开通延迟td(on): 20nS -10uS
　　上升时间tr: 20nS -10uS
　　开通能量Eon： 0.1-1000mJ
　　关断延迟时间td(off)：20 nS -10uS
　　下降时间 tf： 20nS -10uS
　　关断能量Eoff：0.1-1000mJ
　　二极管反向恢复特性测试
　　FRD测试条件：正向电流IF：50A～1000A；反向电压 Vr：200V~2000V；-di/dt：100A/us～10000A/us ；负载：感性负载可选
　　电感范围：100uH，200uH，500uH，1000uH
　　FRD测试参数
　　反向恢复时间trr：20nS -2uS
　　反向恢复电荷Qc：10nC~10uC；
　　反向恢复电流Irm：50A~1000A
　　反向恢复损耗Erec：0.1mJ～1000mJ
产品优势
　　国内能对二极管、IGBT模块、MOS管等器件的时间参数实施测试的设备。