台阶仪EC1850H薄膜测厚仪KOSAKA产品概述： ● 桌上型真圆度圆柱度测定机。 ● 搭载高精度自动工作台、从倾斜中心的对正到资料表格列印均可全自动完成的真圆度圆柱度测定机。 ● 自动调心和调倾斜功能、具备紧急停止机能。 产品优点：具备出色的性价比，全测量能力，易于使用，适用于车间环境中对工件的几何测量。其出色的数据分析能力可以满足实验室圆度测量的要求。

KOSAKA台阶仪EC1550H薄膜测厚仪台阶仪 适用于生产线上的轻巧型，小型工作台回转式的真圆度测定机 产品概述： ● 具有丰富、高精度且快速的测定功能。 ● 搭配数显辅助的快速手动调心调平装置，及自动编程测量功能可实现高效率的测量及解析。 ● 多种滤波类型（采用2CR标准型、2CR、Gaussian位相补偿型）。 ● KOSAKA真圆度仪搭配one touch全姿势调整传感器，

KOSAKA台阶仪EC600薄膜测厚仪台阶仪 适用于生产线上的轻巧型，小型工作台回转式的真圆度测定机 ● 桌上型机型，具备大型液晶画面及操纵解析装置进行测量及解析。另可搭配打印机实时输出测量结果，便于生产线管控。 ● 可另搭配电脑及解析软件。

KOSAKA台阶仪ET10000薄膜测厚仪台阶仪 对应大面积样品段差测定的全自动机型。 ● 机台尺寸可根据样品/工件尺寸订制。 ● 针对生产线全自动大型工件开发，可搭配机械手臂自动进退样品。

KOSAKA台阶仪ET4000薄膜测厚仪台阶仪可以应用在半导体，光伏/太阳能，光电子，化合物半导体，OLED，生物医药，PCB封装等领域的薄膜厚度，台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面

KOSAKA台阶仪ET200A薄膜测厚仪适用于二次元表面纳米等级段差台阶测定、粗糙度测定。 ET200A台阶仪拥有高精度．高分解能，搭配一体花岗岩结构，安定的测量过程及微小的测定力可对应软质样品表面。 该型号台阶仪采用直动式检出器，重现性高。